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    儀電物光WKL-702 顆粒圖像分析儀上海儀電物理光學(xué)

    顆粒測量的顆粒分析儀器

    將傳統的顯微測量方法與現代的圖像技術(shù)相結合,是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器,由光學(xué)顯微鏡、數字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統通過(guò)專(zhuān)用的數字攝像機將圖像傳輸給電腦,通過(guò)專(zhuān)用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進(jìn)行分析處理,具有直觀(guān)、形像、準確和測量范圍寬等特點(diǎn)。
    1、圖像多種處理方法:影像增強、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調節、顆粒定位、自動(dòng)分割等幾十種功能。
    2、具有圓度、曲線(xiàn)、周長(cháng)、面積、直徑等幾十種幾何參數的基本測量。
    3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類(lèi)參數,以線(xiàn)性或非線(xiàn)性統計方式繪出分布圖。

    顆粒測量的顆粒分析儀器

    儀器型號 WKL-702
    測量范圍 0.1~3000(微米)
    總放大倍數 8000倍
    最大分辨率 0.1微米/像素
    重復性 誤差≤±1%
    自動(dòng)分割速度 ≤1秒
    數字攝像機(CCD) 500萬(wàn)像素
    數據儲存 電腦另配
    通信接口 USB
    操作系統 Windows 98/XP/7/8/10系統均可
    電源 AC220V ±10% 200W
    儀器尺寸 270mmX410mmX440mm
    儀器凈重 15kg
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